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Bensen, Adelman 米国特許法 第2版

Patent Law Perspectives, 2nd Edition

Eric Bensen, Martin J. Adelman (1989-2013), Donald R. Dunner & James B. Gambrell (1982-1988)

9 vols. Looseleaf. 1970 to date.(追録年2回)

Matthew Bender. ISBN: 9780820515328

¥897,643

在庫あり

法定主題、特許権の有効性、クレームの文言解釈等、特許訴訟において激しく争われる論点について、連邦地裁、CAFCおよび最高裁判例の進展・動向を解説し、実務に対するその影響を分析した解説書。特に有効性および侵害については多くの頁を割いて、裁判所が採用したセオリーを綿密に検討しています。その他、救済、裁判手続、仲裁、米国特許商標庁における審査手続、ライセンスおよび譲渡、税制、トレード・シークレットおよび不正競争、反トラスト法上の抗弁等についても近時の問題点を検討しており、米国特許法実務の主要なテーマも網羅し、その判例上の進展を明らかにしています。1989年からの執筆者であるエーデルマン教授(ジョージ・ワシントン大学)は特許法研究の第一人者として数多くの特許裁判に専門家証人として証言に立ち、また近年度々来日されており、本書も判決文、論文に引用されています。

【Table of Contents】

1. Statutory Subject Matter

2. Validity

3. Infringement

4. Defenses Other Than Invalidity, Noninfringement and Misuse

5. Remedies Relating to Patent Infringement

6. Court Jurisdiction and Venue

7. Court Procedures

8. Arbitration

9. PTO Practice and Court Review of PTO Decisions

10. Reissue Law and Practice, Reexamination and Public Use Proceedings

11. Interferences

12. Licensing and Sale

13. Taxation

14. [Reserved]

15. Government Proceedings, Contracts and Awards

16. Trade Secrets and Unfair Competition

17. Invalidity or Nonenforceability due to Fraud or Inequitable Conduct

18. Misuse and Antitrust Problems Other Than Fraudulent Procurement